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| 專利名稱(中) | 样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法 |
| 專利家族 |
中華民國：I807273 大陸：CN 115078050 A(公開號) 美國：US-2022-0291090-A1(公開號) |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 曾繁根,陳冠宏 |
| 技術領域 | 材料化工,生化醫藥 |
 專利摘要(中) |
|---|
| 本发明提供一种样品分离用芯片、样品检测装置及样品检测方法。样品分离用芯片包括第一基板、第一电极、第一介电层、第二基板、第二电极、第二介电层与通道层。第一电极设置在第一基板上。第一介电层设置在第一电极上，且包括第一开口。第一开口暴露出第一电极的一部分。第二电极设置在第二基板上。第二介电层设置在第二电极上，且包括第二开口。第二开口暴露出第二电极的一部分。第一开口所暴露出的第一电极的面积小于第二开口所暴露出的第二电极的面积。通道层夹设于第一介电层与第二介电层之间，且包括贯孔。贯孔连通于第一开口与第二开口之间。上述样品分离用芯片有助于缩短样品检测流程与检测时间。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 楊美茹 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #62305 |
| 承辦人Email | mjyang2@mx.nthu.edu.tw |
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