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專利名稱(中) 改質奈米點、其製造方法和其組成元件
專利家族 中華民國:I518028
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 王唯本,周卓煇,徐茂峰,陳正忠
技術領域 材料化工
專利摘要(中)
本發明係揭露一種改質奈米點,其表面係具有官能基,及其核心部分係為一聚合金屬氧化物、聚合類金屬氧化物或聚合金屬合金氧化物,且平均粒徑係為1-100nm,更進一步僅為1-10nm。另外更揭露一種改質奈米點的製造方法,以及利用改質奈米點之載子通量的改變,應用於有機半導體產業、光電產業和太陽能電池產業的元件製備。
專利摘要(英)
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承辦人姓名 蔡昀臻
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