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| 專利名稱(中) | 光學材料應力量測系統 |
| 專利家族 |
中華民國：I619933 大陸：4098883 日本：6352495 美國：10,067,012 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 王偉中,宋泊錡,呂正雍,葉祐良,陳柏宇 |
| 技術領域 | 機械結構 |
 專利摘要(中) |
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| 本发明提供一种光学材料应力量测系统，前述光学材料应力量测系统包含待测试片、起偏镜、检偏镜、光源、取像设备及运算装置。运算装置运用四步相位移运算及等色线强化运算可以对应修正低应力下难以侦测的问题及提升量测效果，本发明之的光学材料应力量测系统以更简化的硬体硬件系统完成穿透式或反射式的精确全场量测作业。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 劉千綺 |
| 承辦人電話 | 03-571-5131 #31181 |
| 承辦人Email | chienchi@mx.nthu.edu.tw |
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