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專利名稱(中) 使用陰影雲紋法線上即時檢測表面形貌與平面外變形之方法與系統
專利名稱(英) METHOD AND SYSTEM FOR ON-LINE REAL-TIME MEASURING THE SURFACE TOPOGRAPHY AND OUT-OF-PLANE DEFORMATION BY USING PHASE-SHIFTING SHADOW MOIRE METHOD
專利家族 中華民國:I471522
美國:10,006,761
專利權人 國立清華大學 100.00%
發明人 康文譯,許軒豪,張雅欣,王偉中
技術領域 機械結構,光電光學
專利摘要(中)
本發明藉由調整不同的光源入射角度和取像角度,直接使用數位相位移式陰影雲紋法(Digital Phase-Shifting Shadow Moiré Method)系統量測未經表面處理(如噴漆處理)之透明或非透明物件之表面形貌與平面外變形,並搭配影像校正,可將非物件法線方向上所擷取之歪斜影像校正為正面影像,以精確獲得實際物件之表面形貌與平面外變形。
聯絡資訊
承辦人姓名 劉千綺
承辦人電話 03-571-5131 #31181
承辦人Email chienchi@mx.nthu.edu.tw
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