專利授權區國立清華大學國際產學營運總中心 Operations Center for Industry Collaboration

專利授權區
專利名稱(中)	具有薄層層析之拉曼檢測晶片及分離檢測分析物之方法
專利名稱(英)	Raman detecting chip for thin layer chromatography and method for separating and detecting an analyte
專利家族	中華民國：I634329 大陸：3762208 大陸：4651346 美國：10,012,625 美國：10,520,363
專利權人	財團法人工業技術研究院 40% ,國立清華大學 60%
發明人	黃致豪,嚴大任,李璧伸,林鼎晸
技術領域	材料化工,生化醫藥,光電光學

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