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| 專利名稱(中) | 具有薄層層析之拉曼檢測晶片及分離檢測分析物之方法 |
| 專利名稱(英) | Raman detecting chip for thin layer chromatography and method for separating and detecting an analyte |
| 專利家族 |
中華民國：I634329 大陸：3762208 大陸：4651346 美國：10,012,625 美國：10,520,363 |
| 專利權人 | 財團法人工業技術研究院 40.00% ,國立清華大學 60.00% |
| 發明人 | 黃致豪,嚴大任,李璧伸,林鼎晸 |
| 技術領域 | 材料化工,生化醫藥,光電光學 |
 專利摘要(中) |
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| 本揭露提供一種具有薄層層析之拉曼檢測晶片及分離檢測分析物之方法。該具有薄層層析之拉曼檢測晶片包含一矽基底，包含一第一部份及配置於該第一部份之上的複數奈米線，其中每一奈米線具有一頂端表面及一側壁；以及，一金屬層覆蓋該奈米線的頂端表面及至少部份側壁，其中該奈米線之總長度L為5μm至15μm。該金屬層覆蓋的該奈米線側壁之長度L1與該奈米線之總長度L的比為0.2至0.8。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 楊美茹 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #62305 |
| 承辦人Email | mjyang2@mx.nthu.edu.tw |
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