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| 專利名稱(中) | 光學材料應力量測方法及其系統 |
| 專利家族 |
中華民國：I619933 大陸：4098883 日本：6352495 美國：10,067,012 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 王偉中,宋泊錡,呂正雍,葉祐良,陳柏宇 |
| 技術領域 | 機械結構 |
 專利摘要(中) |
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| 従って、本発明の目的は、低応力による全界応力測定が困難の課題を解決しまた測定効果を向上させる光学材料の応力測定方法及びそのシステムを提供することにあり、かつ本発明により効果的にハードウェアシステムを簡素化し、透過式又は反射式の精確な全界測定作業の要求に満たすことができる。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李馥如 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #34576 |
| 承辦人Email | fujulee@mx.nthu.edu.tw |
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