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| 專利名稱(中) | 量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法 |
| 專利名稱(英) | APPARATUS FOR QUANTIFYING UNKNOWN STRESS AND RESIDUAL STRESS OF A MATERIAL AND METHOD THEREOF |
| 專利家族 |
中華民國：I457550 大陸：1460567 美國：8,780,348 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 宋泊錡,王偉中,賴冠廷,黃吉宏,陳維仁 |
| 技術領域 | 機械結構,工業工程,光電光學 |
 專利摘要(中) |
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| 一种量化材料未知应力与残余应力的装置，用于量化一待测物的未知应力与残余应力，该装置包括：一光源、一偏光镜、一第一四分之一波片、一标准试片、一第二四分之一波片、一检光镜、一施载单元、一光谱仪及一检测模块；该光源用于产生多波长或单波长之光；该偏光镜设置于该光源前方，且其一面面对该光源以使光产生偏振；该第一四分之一波片设置于该偏光镜前方，且其一面面对该光源以使光产生圆偏振；本发明还揭露量化材料未知应力与残余应力的方法。 |
 聯絡資訊 |
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|---|---|
| 承辦人姓名 | 劉千綺 |
| 承辦人電話 | 03-571-5131 #31181 |
| 承辦人Email | chienchi@mx.nthu.edu.tw |
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