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| 專利名稱(中) | 量測介電常數之系統及方法 |
| 專利名稱(英) | SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING PERMITTIVITY |
| 專利家族 |
中華民國：I546543 美國：9,810,645 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 趙賢文,張存續,翁唯軒 |
| 技術領域 | 材料化工,機械結構,電子電機 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李佳玲 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #62300 |
| 承辦人Email | cl.lee@mx.nthu.edu.tw |
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