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專利名稱(中) | 具有薄層層析的拉曼檢測芯片及分離檢測分析物的方法 |
專利名稱(英) | Raman detecting chip for thin layer chromatography and method for separating and detecting an analyte |
專利家族 |
中華民國:I634329 大陸:3762208 大陸:4651346 美國:10,012,625 美國:10,520,363 |
專利權人 | 國立清華大學 60.00% ,財團法人工業技術研究院 40.00% |
發明人 | 黃致豪,嚴大任,李璧伸,林鼎晸 |
技術領域 | 材料化工,生化醫藥,光電光學 |
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本发明公开一种具有薄层层析的拉曼检测芯片及分离检测分析物的方法。该具有薄层层析的拉曼检测芯片包含一硅基底,包含一第一部分、第二部分、及配置于该第一部分之上的多条纳米线,其中每一纳米线具有一顶端表面及一侧壁;以及,一金属层覆盖该纳米线的顶端表面及至少部分侧壁,其中该纳米线的总长度L为5μm至15μm。该金属层覆盖的该纳米线侧壁的长度L1与该纳米线的总长度L的比为0.2至0.8。 |
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承辦人姓名 | 楊美茹 |
承辦人電話 | 03-5715131 #62305 |
承辦人Email | mjyang2@mx.nthu.edu.tw |