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| 專利名稱(中) | 檢測方法 |
| 專利家族 |
中華民國：I765402 大陸：6369405 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 李明蒼,陳玉彬,陳韋志,呂家瑋 |
| 技術領域 | 光電光學 |
 專利摘要(中) |
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| 一種檢測方法包含：將相關於一印刷電路板的一輸入影像作二值化處理；判斷該輸入影像中屬於黑白交界或該影像邊框的多個輪廓線，並定義為多個線段物件；對每一該線段物件根據一周長閥值及通過一影像邊框的次數作篩選，而獲得多個候選斷線物件；根據每一該候選斷線物件的一斷線端的一中點座標，及一第一設定線距作判斷是否分類為屬於斷線的一第一群組。藉此實現一種不需要使用標準樣板且不需要大量資料而能夠偵測印刷電路板的線路斷線位置的檢測方法。 |
 聯絡資訊 |
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|---|---|
| 承辦人姓名 | 劉千綺 |
| 承辦人電話 | 03-571-5131 #31181 |
| 承辦人Email | chienchi@mx.nthu.edu.tw |
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