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專利名稱(中) | 三维芯片之不连续型态层识别编号检测器及其方法 |
專利名稱(英) | Discontinuous Type Layer-ID Detector for 3D-IC and Method of the Same |
專利家族 |
中華民國:I425356 大陸:1495785 美國:8,564,305 |
專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
發明人 | 陳銘斌,吳威震,張孟凡 |
技術領域 | 電子電機 |
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本发明是一种三维芯片之不连续型态层识别编号检测器及其方法。所述检测器是一种用于N层堆栈组件之每一层之三维芯片检测器,包括:一除二电路,耦接一(N-1)讯号;一第一比较器,耦接除二电路,其中一输入A耦接一初始层数讯号,第一比较器之一输入B耦接除二电路之一输出;一第二比较器,藉由第二比较器之一输入A而耦接初始层数,一num耦接第二比较器之一输入B;一第一加减电路,藉由第一加减电路之一输入A而耦接num,藉由第一加减电路之一输入B而耦接第一比较器,并藉由第一加减电路之一输入“+/-”讯号而耦接第二比较器;以及一第二加减电路,藉由第二加减电路之一输入A而耦接第一比较器,藉由第二加减电路之一输入B而耦接num。 |
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承辦人姓名 | 李曉琪 |
承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |