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| 專利名稱(中) | 三维芯片之不连续型态层识别编号检测器及其方法 |
| 專利名稱(英) | Discontinuous Type Layer-ID Detector for 3D-IC and Method of the Same |
| 專利家族 |
中華民國：I425356 大陸：1495785 美國：8,564,305 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 陳銘斌,吳威震,張孟凡 |
| 技術領域 | 電子電機 |
 專利摘要(中) |
|---|
| 本发明是一种三维芯片之不连续型态层识别编号检测器及其方法。所述检测器是一种用于N层堆栈组件之每一层之三维芯片检测器，包括：一除二电路，耦接一(N-1)讯号；一第一比较器，耦接除二电路，其中一输入A耦接一初始层数讯号，第一比较器之一输入B耦接除二电路之一输出；一第二比较器，藉由第二比较器之一输入A而耦接初始层数，一num耦接第二比较器之一输入B；一第一加减电路，藉由第一加减电路之一输入A而耦接num，藉由第一加减电路之一输入B而耦接第一比较器，并藉由第一加减电路之一输入“＋／-”讯号而耦接第二比较器；以及一第二加减电路，藉由第二加减电路之一输入A而耦接第一比较器，藉由第二加减电路之一输入B而耦接num。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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