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專利名稱(中) 三維晶片之差動感測及矽晶穿孔時序控制結構
專利家族 中華民國：I441190
美國：7,969,193
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 吳威震,陳炎輝,張孟凡
技術領域 電子電機
專利摘要(中)
一種具有複數層之堆疊元件之差動感測及矽晶穿孔時序控制結構，包括：一堆疊元件之第一晶片層，包括一檢測電路與一相對高能力驅動器水平耦接檢測電路。一感測電路，藉由一水平導線耦接檢測電路。一第一差動訊號驅動器，於第一晶片層中水平耦接該感測電路。一堆疊元件之第N晶片層，包括一第N相對高能力驅動器與一第N差動訊號驅動器形成於第N晶片層之上，N為大於1的自然數，其中第N相對高能力驅動器係透過一垂直相對低負載矽晶穿孔與(N-2)相對高負載矽晶穿孔作為虛擬負載而垂直耦接第一相對高能力驅動器，相對低負載矽晶穿孔與(N-2)相對高負載矽晶穿孔係從第N晶片層至第一晶片層而穿過堆疊元件，其中相對低負載矽晶穿孔與(N-2)相對高負載矽晶穿孔形成於一共享結構中，其中第N差動訊號驅動器係透過一對相對低負載矽晶穿孔與(N-2)對相對高負載矽晶穿孔而垂直耦接第一差動訊號驅動器，該對相對低負載矽晶穿孔與該(N-2)相對高負載矽晶穿孔係從第N層至第一層而穿過堆疊元件，每一相對低負載矽晶穿孔係形成於第一與第二晶片層之間，每一相對高負載矽晶穿孔係形成於堆疊元件之任一相鄰二晶片層之間。
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承辦人姓名 李曉琪
承辦人電話 03-5715131 #31061
承辦人Email hsiaochi@mx.nthu.edu.tw
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