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專利名稱(中) 貫穿矽通孔之測試方法及測試電路
專利家族 中華民國：I443353
專利權人 國立清華大學 100%
發明人 蒯定明,陳柏源,吳誠文,周永發
技術領域 電子電機
專利摘要(中)
本發明之貫穿矽通孔之測試方法和測試電路係對待測之貫穿矽通孔之特性加以利用。首先重設一貫穿矽通孔至一第一狀態。接著感測該待測貫穿矽通孔以決定該貫穿矽通孔是否遵守正常貫穿矽通孔之行為，其中該重設和該感測之動作僅操作於該貫穿矽通孔之一端。若該貫穿矽通孔違反正常貫穿矽通孔之行為，則決定該貫穿矽通孔為錯誤。
聯絡資訊
承辦人姓名 李曉琪
承辦人電話 03-5715131 #31061
承辦人Email hsiaochi@mx.nthu.edu.tw
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