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| 專利名稱(中) | 三維晶片之突波型態層識別編號檢測器及其方法 |
| 專利家族 |
中華民國：I443802 大陸：1317138 美國：8,829,887 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100% |
| 發明人 | 陳銘斌,吳威震,張孟凡 |
| 技術領域 | 電子電機 |
 專利摘要(中) |
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| 一種堆疊元件之每一層之三維晶片檢測器包括一突波產生器以接收一初始訊號以及產生一突波輸入訊號至一下一層檢測器。一鎖存器耦接突波產生器以接收突波產生器之一輸出訊號與產生一層識別訊號。一計數器耦接前一層檢測器及初始訊號以執行一計數操作，一加法器耦接計數器以增加一數值至一計數器之計數輸出與輸入增加訊號至突波產生器。 |
 聯絡資訊 |
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|---|---|
| 承辦人姓名 | 李曉琪 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #31061 |
| 承辦人Email | hsiaochi@mx.nthu.edu.tw |
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