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| 專利名稱(中) | 光學材料應力量測方法及其系統 |
| 專利家族 |
中華民國：I619933 大陸：4098883 日本：6352495 美國：10,067,012 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 陳柏宇,葉祐良,宋泊錡,呂正雍,王偉中 |
| 技術領域 | 光電光學,機械結構 |
 專利摘要(中) |
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| 本發明提供一種光學材料應力量測方法，前述光學材料應力量測方法包含一擷取待測試片光強影像步驟、一四步相位移運算步驟、一等色線強化運算步驟及一延遲量轉換運算步驟。運用四步相位移運算步驟及等色線強化運算步驟可以對應修正低應力下難以偵測的問題及提昇量測效果，本發明之光學材料應力量測方法以更簡化的硬體系統完成穿透式或反射式的精確全場量測作業。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 李馥如 |
| 承辦人電話 | 03-5715131 #34576 |
| 承辦人Email | fujulee@mx.nthu.edu.tw |
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