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專利名稱(中) 基於時間域相位展開的應力分析方法
專利名稱(英) METHOD FOR ANALYZING STRESS IN AN OBJECT
專利家族 中華民國：I628422
大陸：3583501
美國：10,036,677
專利權人 國立清華大學 100.00%
發明人 洪德恆,江禹安,宋泊錡,王偉中
技術領域 機械結構,光電光學
專利摘要(中)
一种应力分析方法，适于一计算机装置执行，包含以下步骤：存取一光谱数据，该光谱数据由一光学检测系统通过光弹技术侦测一待测物件的一干涉条纹图形所产生，该光谱数据包含至少三笔对应于相异波长的光强度信息；依据每一光强度信息计算一相应的包裹相位信息；依据每一包裹相位信息计算一相应的包裹应力信息，每一包裹应力信息正比于其相应的包裹相位信息与波长的线性函数的乘积；依据包裹应力信息之间的相对关系择定一计算关系式；及依据该计算关系式计算一相应于该待测物件的包裹应力信息的应力值。本发明能即时快速量测应力，且不受限于波长的选用，具有高自由度。
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承辦人姓名 劉千綺
承辦人電話 03-571-5131 #31181
承辦人Email chienchi@mx.nthu.edu.tw
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