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專利名稱(中) | 落射頂錐殼層光超解析系統及顯微鏡 |
專利名稱(英) | EPI-CONESHELL LIGHTSHEET SUPER RESOLUTION SYSTEM AND MICROSCOPY |
專利家族 |
中華民國:I702420 大陸:4972169 美國:11,073,477 |
專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
發明人 | 林彥穎,朱麗安,張煒堃,江安世 |
技術領域 | 生化醫藥,光電光學 |
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本發明提供一種落射頂錐殼層光超解析系統及落射螢光顯微鏡。落射頂錐殼層光超解析系統包含:發光元件、透鏡組及物鏡。發光元件發出的激發光通過透鏡組後折射為環形光,並聚焦至物鏡的後物鏡後焦平面,物鏡將環形光聚焦形成環形光錐並聚焦於樣本位置,環形光錐具有固定之厚度。此外,激發及取像皆使用同一物鏡,進而達成落射螢光顯微鏡。 |
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承辦人姓名 | 李佳玲 |
承辦人電話 | 03-5715131 #62300 |
承辦人Email | cl.lee@mx.nthu.edu.tw |