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| 專利名稱(中) | 量化材料未知應力與殘餘應力之裝置及其方法 |
| 專利名稱(英) | APPARATUS FOR QUANTIFYING UNKNOWN STRESS AND RESIDUAL STRESS OF A MATERIAL AND METHOD THEREOF |
| 專利家族 |
中華民國：I457550 大陸：1460567 美國：8,780,348 |
| 專利權人 | 國立清華大學 100.00% |
| 發明人 | 宋泊錡,王偉中,賴冠廷,黃吉宏,陳維仁 |
| 技術領域 | 機械結構,工業工程,光電光學 |
 專利摘要(中) |
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| 一種量化材料未知應力與殘餘應力之裝置，係用以量化一待測物之未知應力與殘餘應力，該裝置包括：一光源、一偏光鏡、一第一四分之一波片、一標準試片、一第二四分之一波片、一檢光鏡、一施載單元、一光譜儀及一檢測模組；該光源係用以產生多波長或單波長之光；該偏光鏡係設置於該光源前方，且其一面係面對該光源以使光產生偏振；該第一四分之一波片係設置於該偏光鏡前方，且其一面係面對該光源以使光產生圓偏振；本發明亦揭露二量化材料未知應力與殘餘應力之方法。 |
 聯絡資訊 |
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| 承辦人姓名 | 劉千綺 |
| 承辦人電話 | 03-571-5131 #31181 |
| 承辦人Email | chienchi@mx.nthu.edu.tw |
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